題名: A simple NFC parameters measurement method based on ISO/IEC 14443 standard
作者: 彭嘉美
作者群: I-Fong Chen、Chia-Mei Peng、Zhi-Da Yan
系所/單位: 通訊工程學系
期刊名/會議名稱: IEEE International Conference on RFID Technology and Applications
會議地點 : Auditorium “Le Benedettine”
會議舉行國家 : Italia
日期: 09-25-19
會議資料 : 論文集
學年度: 108
分類:會議論文

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C108312CI020008_001.pdf
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