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dc.contributor.author田春林-
dc.contributor.otherHong-Yi Lin、Chuen-Lin Tien*-
dc.date108-
dc.date.accessioned2020-06-15T03:15:28Z-
dc.date.available2020-06-15T03:15:28Z-
dc.date.issued12-05-19-
dc.identifier.urihttp://dspace.fcu.edu.tw/handle/2376/1333-
dc.relation.ispartofseriesOptics & Photonics Taiwan, International Conference (OPTIC 2019)-
dc.relation.isversionof0684-
dc.titleMeasurement and Prediction of Residual Stress in the Mid-Infrared (SiO2/Ge)^x Multilayer Thin Films-
dc.contributor.department電機工程學系-
dc.identifier.AccessionNumber0086-
teacher.country臺灣-
teacher.location中興大學-
teacher.media摘要集-
teacher.international國際性-
teacher.type會議論文-
分類:會議論文

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C108312CE110086_001.pdf
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