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dc.contributor.author鄭亦廷
dc.date97學年度 第二學期
dc.date.accessioned2009-11-03T14:04:36Z
dc.date.accessioned2020-05-29T08:37:15Z-
dc.date.available2009-11-03T14:04:36Z
dc.date.available2020-05-29T08:37:15Z-
dc.date.issued2009-11-03T14:04:36Z
dc.date.submitted2009-10-31
dc.identifier.otherM9745217
dc.identifier.urihttp://dspace.fcu.edu.tw/handle/2377/735-
dc.description.abstract凡具有溫度的物質均會放射出紅外線,而自紅外光科學發展以來,物體的放射率即為人們所關注。物體放射紅外線的強度和材質的溫度及放射率有關,本研究即在於利用紅外線感測元件熱電堆進行物體放射率的量測。本研究使用熱電堆偵測器、微處理器所組成紅外線放射率量測系統,熱電堆偵測器偵測到熱輻射之後進行後端放大、擷取電路及內差法數學計算以實現紅外線放射率量測的目的。另外感測元件訊號輸出僅數十微伏~數毫伏的範圍,故在系統架構上須保持環境參數的穩定,並選用適當的放大元件,以使量測結果穩定並降低量測的誤差。
dc.description.tableofcontents一、 前言3 二、 放射率量測原理3 三、 系統架構與量測結果5 四、 結論6 五、 參考文獻7
dc.format.extent8p.
dc.language.isozh
dc.rightsopenbrowse
dc.subject紅外線
dc.subject放射率
dc.subject熱電堆
dc.title遠紅外線物體放射率量測
dc.typegradreport
dc.description.course偏振光學
dc.contributor.department電機系, 資訊電機學院
dc.description.instructor陳德請
dc.description.programme電機系, 資訊電機學院
分類:資電097學年度

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