液晶顯示器光學膜片之機械性質量測

Abstract

近年來，隨著時代的演進、科學的進步與市場的需求，液晶顯示器(LCD)逐漸地取代陰極射線管顯示器(CRT)，並因為其輕薄、低耗電與零輻射，而被廣泛地應用在各種大小的產品上，成為新一代的熱門商品。但由於隨著LCD規格越大，內部燈管也越大越多，以及其在長時間使用的情況下，使得LCD產生與累積大量的熱能，讓光學膜片受熱應力而產生皺折與翹曲，導致畫面亮度不均或破壞液晶面板；而且LCD的面板與背光模組的內部構造複雜、硬度低，因此整體結構脆弱、單價高且維修不易。因此，光學膜片之機械性質能被精確地量取，將對產品設計、成像品質研究與耐用度上是很重要的依據。 在各式各樣測量膜片機械性質的方法中，本文選用膨脹測試法(Bulge Test)來測量手機產品上的擴散片。利用膨脹測試法中光學干涉儀之全域式的優點，來測量擴散片受均勻面壓力後平面外(Out-of-plane)的位移，並配合膨脹方程式理論公式，希望能求得擴散片之殘留應力(Residual Stress)、雙軸模數(Biaxial Modulus)、楊氏模數(Young’s modulus)與波松比(Poisson’s ratio)。 本專題獲得“行政院國家科學委員會95年度大專學生參與專題研究計畫”補助，國科會計畫編號：NSC95-2815-C-035-006-E。